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(请给出正确答案)
提问人:网友hantuotuo
发布时间:2022-04-03
[单选题]
提高近表面缺陷的探测能力的方法是()
A.用TR探头
B.使用窄脉冲宽频带探头
C.提高探头频率,减小晶片尺寸
D.以上都是
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