题目内容
（请给出正确答案）
下列关于PET的描述，其中错误的一项是
A、正电子只能通过探测由电子对湮灭所产生的γ光子对来反映正电子湮灭时的位置
B、符合线代表反方向飞行的光子对所在的直线
C、湮灭光子对沿着直线反方向以光速飞行
D、只有同时探测到的两个光子，才被认为是来自同一湮灭事件
E、真符合、随机符合、散射符合是无法区分的
简答题官方参考答案
（由简答题聘请的专业题库老师提供的解答）
更多“下列关于PET的描述，其中错误的一项是A、正电子只能通过探测由电子对湮灭所产生的γ光子对来反映正”相关的问题
下列关于PET晶体厚度和尺寸的描述，错误的一项是
A、晶体加厚使入射光子与晶体的相互作用机会增加，探测效率提高
B、晶体加厚使光电倍增管产生的脉冲能谱展宽，能量分辨下降
C、晶体面积增大，PET灵敏度提高
D、晶体面积增大，PET空间分辨率提高
E、成像时，接收到的射线均定位在小晶体探测器的中心
下列关于随机符合校正精度的描述，错误的一项是
A、描述PET系统对随机符合及由此时间引起的计数丢失的校正精度
B、用校正后的剩余相对误差△R表示校正精度
C、△R=(Rtrues/／Rextrap -1)×100%
D、Rtrues为真实符合计数率
E、Rextrap为无随机符合和计数丢失情况下的计数率
下列关于PET空白均匀性扫描的描述，错误的一项是
A、空白均匀性扫描时视野内无放射源，主要反映PET的本底噪声
B、除了查看扫描结果数据外，最好再观看一下slnogram（正弦图）图像
C、影响每日均匀性结果的因素包括两大部分，即环境因素与线路硬件
D、环境部分包括温度、湿度与放射性污染
E、线路硬件部分包括晶体损坏、线路接触不良或老化、高压漂移等
A.描述PET系统对随机符合及由死时间引起的计数丢失的校正精度
B.用校正后的剩余相对误差△R表示校正精度
C.为真实符合计数率
D.为无随机符合和计数丢失情况下的计数率
下列关于PET晶体的性能指标的描述，错误的一项是
A、晶体的发射光谱愈窄，在光电倍增管中的光电转换愈好
B、晶体的衰减长度短，探测效率提高，空间分辨高降低
C、晶体的衰减时间短，则时间分辨好，可使随机符合事件下降，系统死时间缩短
D、晶体光电效应分支比高，则定位精度好，能量分辨率好
E、晶体的发光效率高，则能量分辨好
下列关于PET能量分辨率与能窗的描述，错误的一项是
A、脉冲能谱分布的半高宽与入射光子能量之比越小，能量分辨率越高
B、能窗下限可将低能量的散射光子排除掉
C、能窗上限过高将导致真符合计数的大量丢失
D、能量分辨率主要取决于晶体性能
E、能量分辨率与探测系统的设计有关
下列关于PET空间分辨率的描述，错误的一项是
A、PET系统对一个点源的成像扩展为一个分布，该分布称为点扩展函数(PSF)
B、PSF的FWHM越大，点源的扩展程度越大，分辨率越低
C、两个湮灭光子的运动方向不可能成180°角，要偏向电子偶的运动方向
D、正电子飞行距离是从零到最大射程连续分布，大多数正电子能量位于1／2 E一左右
E、两个湮灭光子的运动方向偏转角呈高斯分布，偏转角的半高宽为0.3
A.散射校正精度描述PET系统对散射符合事件的剔除能力
B. 用散射校正后的剩余误差ΔC描述散射校正精度
C. 在热背景中插入冷插件，进行散射校正后，ΔC=（Ccold/CB）×100%
D. Ccold为图像上冷插件内计数
E. CB为图像上的总计数
下列关于计数率特征的描述，错误的一项是
A、在符合探测中，总计数中除真符合外，不可避免地包含着散射符合和随机符合的计数率
B、在PET图像中，除了与真符合计数相关的统计涨落噪声外，还必须考虑散射和随机符合噪声
C、为评估PET图像质量，引入了噪声等效计数，以衡量噪声
D、噪声等效计数率等于总计数减去真符合计数率再与总计数的比值
E、数率特征反映总符合计数率、真实符合计数率、随机符合计数率、散射符合计数率和噪声等效计数率随活度的变化
A.PET系统对一个点源的成像扩展为一个分布，该分布称为点扩展函数(PSF)
B.PSF的FWHM越大，点源的扩展程度越大，分辨率越低
C.两个湮灭光子的运动方向不可能成180。角，要偏向电子偶的运动方向
D.正电子飞行距离是从零到最大射程连续分布，大多数正电子能量位于1／2E左右
E.两个湮灭光子的运动方向偏转角呈高斯分布，偏转角的半高宽为0.3
警告：系统检测到您的账号存在安全风险
为了保护您的账号安全，请在“简答题”公众号进行验证，点击“官网服务”-“账号验证”后输入验证码“”完成验证，验证成功后方可继续查看答案！
