接触法探伤，对大于声束直径的缺陷，可用（）法或叫半波高度法测定缺陷大小。

A、6dB

B、相对灵敏度

C、绝对灵敏度

D、12dB

A.耦合不良

B.存在与声束不垂直的平面缺陷

C.存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷

D.以上都是

A.耦合不良

B.存在与声束不垂直的平面缺陷

C.耦合太好

D.存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷

A.耦合不良

B.存在与声束不垂直的平面缺陷

C.存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷

D.工件材料衰减过大

A、耦合不良

B、存在与声束不垂直的缺陷

C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷

D、以上都可能

A.当缺陷尺寸小于声束截面时使用

B.当缺陷尺寸或面积大于声束直径或截面时使用

C.用探头移动法来测定缺陷指示长度方法有相对灵敏度测长法、端点峰值测长法

D.用探头移动法来测定缺陷指示长度方法有相对灵敏度测长法、当量法

接触法超声波探伤，由于近场区内声束中的声压变化不规则，一般不在近场区中()。