X线头影测量的主要应用有
A.可对牙牙合、颅面畸形作诊断分析
B.可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化
C.可确定错骀畸形的矫治设计
D.可作为外科正畸诊断和矫治设计依据
E.可研究颅面生长发育
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