题目内容
（请给出正确答案）
同－生产条件下生产的－批电子元件，任意抽取－件测试其寿命，事件A＝“测得时间小于1 800小时”，事件B＝“测得时间大于1 000小时”，A n B等于（）。
A.{x：x＞1 000}
B.{x：x＞1 800}
C.{x：1 000＜x＜1 800}，
D.{x：x＜1 800}
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A.{x：x>1 000}
B.{x：x>1 800)
C.{x：1 000<1>
D.{x：x<1 800)
A、70
B、75
C、81
D、88
159 280 101 212 224 379 179 264
222 362 168 250 149 260 485 170
问是否有理由认为元件的平均寿命显著地大于225小时(a=0.05)?
A.10 000
B.30 000
C.60 000
D.600
A.排列图上不同矩形高度基本－致，说明已经找到比较理想的分类方式
B.分析问题原因时，可以使用排列图寻找关键原因
C.掌握现状时，可以使用排列图发现主要的不合格类型
D.排列图是－种特殊的直方图，图中的各个矩形由低至高排列
E.同样的数据集使用不同的分类方法，得到的排列图也不相同
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=2350小时，s=800，试求过程能力指数。
