配对设计差值的符号秩和检验用正态近似法的条件是A、30C、n>40D、n>50E、n>25
配对设计差值的符号秩和检验用正态近似法的条件是
A、30
C、n>40
D、n>50
E、n>25
配对设计差值的符号秩和检验用正态近似法的条件是
A、30
C、n>40
D、n>50
E、n>25
配对设计差值的符号秩和检验用正态近似法的条件是
A.n<25
B.n>30
C.n>40
D.n>50
E.n>25
A.检验效能增加
B.检验效能降低
C.Ⅱ类错误增加
D.Ⅰ类错误减少
E.Ⅰ、Ⅱ类错误增加或减少
A.两独立样本比较时,应混合编秩,相同值取平均秩
B.配对符号秩和检验中应分别计算正负秩和,以绝对值较小者为检验统计量
C.配对符号秩和检验中T值越大,P值越小
D.两样本比较的秩和检验,零值舍去不要
E.配对符号秩和检验中,当样本例数较大时,可用正态近似法检验
A.符号秩和检验中,差值为零不参加编秩
B.两样本比较的秩和检验方法中的正态近似法为参数检验
C.当符合正态假定时,非参数检验犯Ⅱ类错误的概率较参数检验大
D.当样本足够大时,秩和分布近似正态
E.秩和检验适用于检验等级资料、可排序资料和分布不明资料的差异
A.符号秩和检验中,差值为零不参加编秩
B. 两样本比较的秩和检验方法中的正态近似法为参数检验
C. 当符合正态假定时,非参数检验犯II类错误的概率较参数检验大
D. 当样本足够大时,秩和分布近似正态
E. 秩和检验适用于检验等级资料、可排序资料和分布不明资料的差异
配对设计资料的符号秩和检验,若检验假设H。成立,则
A.正秩和与负秩和相差不会很大
B.正秩和与负秩和可能相差很大
C.正秩和的绝对值大于负秩和的绝对值
D.正秩和的绝对值小于负秩和的绝对值
E.差值为正的秩和与差值为负的秩和肯定相等
A.H0:两样本对应的总体均数相同
B.H0:样本的差数应来自均数为0的非正态总体
C.H0:两样本对应的总体分布相同
D.H0:两样本的中位数相同
E.H0:样本差值总体中位数为0
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