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提问人:网友CYH2021
发布时间:2022-01-07
[判断题]
需要监控顶针印迹的产品,则需要在高倍镜检记录上背面向上贴上使用设备Pickdie功能顶下的墨点芯片(生产组长必须确认后方可送检)。()
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A、上芯顶针痕迹检查频次为1次/批
B、在100X显微镜下检查顶针痕迹时,如果顶针痕迹不清晰,未造成明显的不良,则判定为合格
C、MOSFET产品在100X显微镜下检查时,如有顶针印记,则判断为不良
D、在监控顶针痕迹时,必须使用设备的pickdie功能从晶圆上吸取芯片做样品监控,不允许使用镊子从兰膜上直接夹取
镜下血尿是指
A.离心后尿沉渣镜检每高倍镜视野红细胞>3个
B.离心后尿沉渣镜检每高倍镜视野红细胞>5个
C.离心后尿沉渣镜检每低倍镜视野红细胞>3个
D.离心后尿沉渣镜检每低倍镜视野红细胞>5个
E.尿沉渣镜检高倍镜视野红细胞>5个
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