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提问人：网友lscskysky
发布时间：2022-01-06
[主观题]
下列根分叉病变的病因不正确的是（）
A. 菌斑微生物是主要病因
B.
创伤是促进因素
C. 根柱长的比根柱短的牙易发
D. 髓底副根管是易发因素
E. 牙颈部釉突是易发因素
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根分叉病变的主要病因是
A．咬合创伤
B．根柱过长
C．龋病
D．磨牙症
E．菌斑
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第2题
如左下后牙诊断为根分叉病变，其主要病因是A．咬合创伤B．牙菌斑C．牙根的解剖形态D．牙颈部的釉质突
如左下后牙诊断为根分叉病变，其主要病因是
A．咬合创伤
B．牙菌斑
C．牙根的解剖形态
D．牙颈部的釉质突起
E．牙髓的感染
第3题
下列有关根分叉病变分度的描述中，哪一项不正确A．Ⅰ度：可探及根分叉外形，X线片示无异常表现B．Ⅱ度：
下列有关根分叉病变分度的描述中，哪一项不正确
A．Ⅰ度：可探及根分叉外形，X线片示无异常表现
B．Ⅱ度：只有一侧可探入根分叉区，X线片示骨密度略降低
C．Ⅱ度：一侧或双侧可探入根分叉区，但不能穿通，X线片示骨密度略降低
D．Ⅲ度：探针能通过根分叉区，但有牙龈覆盖，X线片示骨密度降低区
E．Ⅳ度：探针能通过根分叉区，且无牙龈覆盖，X线片示骨密度降低区
第5题
引起逆行性牙髓炎的临床表现不正确的是（）A．可探及深的牙周袋B．严重的根分叉病变 C．
引起逆行性牙髓炎的临床表现不正确的是（）
A．可探及深的牙周袋
B．严重的根分叉病变
C．可有叩痛
D．对患牙的小部位温度测验可有不同反应
E．可探及深龋洞
第6题
关于根分叉病变手术治疗不正确的是（）
A. 截根术适合上颌磨牙颊根病变
B. 分根术适合下颌磨牙近远中根均有一定支持组织时
C. 牙半切术适合某一根病变严重而另外根支持组织良好时
D. 以上手术均应患牙配合完善根管治疗及调
E. 可以与基础治疗同期进行
第7题
关于牙周探诊，叙述不正确的是A.使用Nabers探针检查根分叉病变B.探诊时用改良握笔式握持探针C.探
关于牙周探诊，叙述不正确的是
A.使用Nabers探针检查根分叉病变
B.探诊时用改良握笔式握持探针
C.探诊力量为30～35g
D.牙周探针应与牙体长轴平行
E.探针的粗细及形状影响探诊的准确性
第8题
关于根分叉病变的描述不正确的是A、下颌磨牙的根分叉病变较易探查B、上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭
关于根分叉病变的描述不正确的是
A、下颌磨牙的根分叉病变较易探查
B、上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入
C、上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ度或Ⅲ度
D、X线片的表现常比实际病变轻
E、发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙
第9题
关于根分叉病变的描述不正确的是（）
A.下颌磨牙的根分叉病变较易探查
B.上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入
C.上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ度或Ⅲ度
D.X线片的表现常比实际病变轻
E.发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙
第10题
关于根分叉病变的描述不正确的是A、可用普通的弯探针探查B、检查上颌磨牙时，先探查颊侧中央处的根
关于根分叉病变的描述不正确的是
A、可用普通的弯探针探查
B、检查上颌磨牙时，先探查颊侧中央处的根分叉区
C、检查下颌磨牙时，从颊侧和舌侧中央处分别探查根分叉区
D、X线片的表现常比实际病变轻
E、发生根分叉病变的患牙是松动牙
