在什么条件下尺寸较大的源摄得的射线底片质量可与尺寸较小的源相当?()A.增大源到胶片距离;B.采
在什么条件下尺寸较大的源摄得的射线底片质量可与尺寸较小的源相当?()
A.增大源到胶片距离;
B.采用较厚的铅增感屏;
C.使用速度快的胶片;
D.缩短曝光时间。
在什么条件下尺寸较大的源摄得的射线底片质量可与尺寸较小的源相当?()
A.增大源到胶片距离;
B.采用较厚的铅增感屏;
C.使用速度快的胶片;
D.缩短曝光时间。
A.源的放射性强度、胶片类型、增感屏的类型
B. 源的放射性强度、胶片的尺寸、材料的厚度
C. 源的尺寸、源的放射性、试样与胶片的距离
D. 源的尺寸、试样厚度、几何不清晰度
计算题:用192Irγ射线透照厚度有变化的钢试件,将摄得的底片放到观片灯上,用照度计紧贴底片测定透射光强,厚度20mm部分(黑度D1)为55lx,厚度31mm部分(黑度D2)为165lx。求该胶片在D1、D2之间的平均梯度。(设厚度20mm部分考虑胶片速度系数的散射比n1为2,厚度31mm部分的散射比n2为3,又试件对192Irγ射线的半值层为11mm)
A.源的种类、胶片类型,增感屏的类型;
B.源的强度、胶片的尺寸、材料的厚度;
C.源的尺寸、源的半衰期、试样的尺寸;
D.源的尺寸、试样厚度、胶片的尺寸
按照JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分:射线检测》规定,单壁透照中,如果像质计无法放在源侧而放在胶片侧时,应在像质计适当位置放置铅字“F”作为标记,“F”标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上,且应在检测报告上注明。()
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