()最初被助听器制造商用于质量控制。A.耦合腔测试B.功能增益C.目标曲线D.真耳耦合腔差值E.真耳未
()最初被助听器制造商用于质量控制。
A.耦合腔测试
B.功能增益
C.目标曲线
D.真耳耦合腔差值
E.真耳未助听反应
()最初被助听器制造商用于质量控制。
A.耦合腔测试
B.功能增益
C.目标曲线
D.真耳耦合腔差值
E.真耳未助听反应
A.40dB SPL
B.45dB SPL
C.50dB SPL
D.60dB SPL
E.65dB SPL
A.按[MENU]键,屏幕可由现选择菜单,将光标置于Gain位置,按[>]键执行存储曲线并关闭菜单,选择耦合器屏幕中存储曲线的位置
B.用[∧]、[∨]键选择输入声压级(根据测试需要可选择50dB SPL或60dB SPL)
C.将助听器和耦合腔连接好,接好模拟电池,打开相应型号电池按钮,音量调至满挡,放在隔声箱参考测试位置
D.按[START]键运行该测试程序,开始由低频至高频的扫描过程
E.按[STOP]键停止测量或继续下个数据测量测试
A.60dB SPL
B.65dB SPL
C.70dB SPL
D.80dB SPL
E.90dB SPL
A.运行IEC测试程序,按[F6]键,用[∨]键选择Store Curve Coup(在耦合器屏幕存储曲线)
B.用[>]键执行存储曲线并关闭菜单,选择耦合器屏幕中存储曲线的位置
C.用[∧]、[∨]键选择输入声压级60dB SPL
D.连接助听器和耦合腔,接好模拟电池,打开相应型号电池按钮,将音量调至等效增益点,放在隔声箱参考测试位置
E.将助听器音调开关置于“H”调位,选择多条曲线的一条,按[START]键运行该测试程序,开始由低频至高频的扫描过程,显示屏幕可见一条增益曲线
A.①②③⑥⑦⑨⑩
B.①②③④⑥⑦⑨⑩
C.①②③⑥⑦⑧⑨⑩
D.①②③⑤⑥⑦⑨⑩
E.①②③⑥⑧⑨⑩
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