在X射线荧光分析中,以LiF晶体(2d=0.4027nm)测定某未知试样,在2θ=14.02。出现一谱峰,可判断为下列______产生。
A.Sb Kα 0.0472nm;
B.Sn Kα 0.0492nm;
C.Cd Kα 0.0536nm;
D.Ag Kα 0.0561nm。
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