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提问人:网友anonymity 发布时间:2022-01-06
[单选题]

在X射线荧光分析中,以LiF晶体(2d=0.4027nm)测定某未知试样,在2θ=14.02。出现一谱峰,可判断为下列______产生。

A.Sb Kα 0.0472nm;

B.Sn Kα 0.0492nm;

C.Cd Kα 0.0536nm;

D.Ag Kα 0.0561nm。

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第1题
以下是某同学测定硫酸铜晶体(CuSO4·xH2O)中结晶水含量的实验方案。

实验用品:硫酸铜晶体、研钵、干燥器、坩埚、三脚架、玻璃棒、药匙、托盘天平

实验步骤:

① 准确称量一个干净、干燥的坩埚;

② 在坩埚中加入一定量的硫酸铜晶体试样,称重,将称量的试样放入研钵中研细,再放回到坩埚中;

③ 将盛有试样的坩埚加热,待晶体变成白色粉末时,停止加热;

④ 将步骤③中的坩埚放入干燥器,冷却至室温后,称重;

⑤ 将步骤④中的坩埚再加热一定时间,放入干燥器中冷却至室温后称量。重复本操作,直至连续两次称量的质量差不超过0.1g为止;

⑥ 计算硫酸铜晶体化学式中x的实验值。

分析该方案并回答下面问题:

(1)完成本实验还需要的实验用品是___________ ;

(2) 指出实验步骤②中存在的错误并改正:_______________ ;

(3)硫酸铜不能放置在空气中冷却的原因是 _______________;

(4)步骤⑤的目的是________________ ;

(5)若坩埚的质量为m,坩埚与硫酸铜晶体的质量为m1,加热后称量坩埚与无水硫酸铜的质量为m2,则晶体CuSO4·xH2O中,x =______________ (写表达式);

(6)下面的情况有可能造成测试结果偏高的是 ____________(填序号)。

A.试样中含有加热不挥发的杂质

B.试样中含有加热易挥发的杂质

C.测试前试样已有部分脱水

D.实验前坩埚未完全干燥

E.晶体加热脱水不完全

F.加热时有晶体溅出

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第2题
在X射线荧光分析中,增强效应和基体吸收效应______。

A.分别产生正误差和负误差;  B.分别产生负误差和正误差;

C.均产生正误差;  D.均产生负误差。

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第3题
与波长色散型相比,能量色散型X射线荧光光谱仪没有______。

A.X射线源;  B.能量分析器;  C.分光晶体;  D.检测器。

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第4题
在X射线荧光分析中,影响定量的因素为______。

A.减弱效应和基体吸收效应;  B.减弱效应和基体增强效应;

C.增强效应和基体增强效应;  D.增强效应和基体吸收效应。

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第5题
波长色散型X射线荧光光谱仪的主要部件为______。

A.X射线管+分光晶体+检测器;  B.空心阴极灯+光栅+检测器;

C.X射线源+光栅+检测器;  D.空心阴极灯+分光晶体+检测器。

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第6题
X射线光谱分析中,通常采用的分光器是______。

A.棱镜;  B.光栅;  C.晶体;  D.棱镜+光栅。

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第7题
影响俄歇电子产生概率的因素是______。

A.元素的原子序数;  B.照射X射线的能量;

C.能量分析器;  D.检测器。

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第8题
X射线光谱分析涉及到原子的______。

A.外层电子跃迁;  B.内层电子跃迁;

C.价电子跃迁;  D.外层价电子跃迁。

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第9题
原子发射出特征X射线荧光时,发射的X射线荧光波长总是比相应的初级X射线的波长______。

A.长;  B.短;  C.两者相等;D.两者无关。

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第10题
在获得的电子能谱图上,峰强度的一般规律为,主量子数n越小,峰强越小。(  )
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