A.对于不导电的样品,电子显微镜无法测量
B.电子显微镜按成像机理大致分成两种类型:一种是透射电镜;另一种是扫描电镜
C.电子显微镜观察样品时,样品必须放置于高真空环境
D.电子显微镜对样品的厚度都有限制
A.对于不导电的样品,电子显微镜无法测量
B.电子显微镜按成像机理大致分成两种类型:一种是透射电镜;另一种是扫描电镜
C.电子显微镜观察样品时,样品必须放置于高真空环境
D.电子显微镜对样品的厚度都有限制
对样品进行表面形貌分析时应使用()。
A、X射线衍射(XRD)
B、透射电镜(TEM)
C、扫描电镜(SEM)
收集轰击样品所产生的二次电子经转换放大后在荧屏上成像的显微镜是
A、透射电镜
B、扫描电镜
C、荧光显微镜
D、倒置显微镜
E、相差显微镜
A.TEM,接收透射电子,观察样品的形貌、结构、粒径。
B.SEM,可接收二次电子、背散射电子观察形貌、成分。
C.TEM要求样品非常薄。SEM要求样品具有良好导电性。
D.EDS,可作为透射电镜和扫描电镜的附件使用,分析样品的成分。
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