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提问人:网友wu30wu000 发布时间:2022-01-06
[主观题]

如图2-2所示,折射率为n2、厚度为e的透明介质薄膜的上方和下方的透明介质的折射率分别为n2和n3,已知n123。若用波长为λ的单色平行光垂直入射到该薄膜上,则从薄膜上、下两表面反射的光束(1)和(2)的光程差是()。

	A. ['2n2eB. C. 2n2e-λD.

A. ['2n2e

B.	A. ['2n2eB. C. 2n2e-λD.

C. 2n2e-λ

D.	A. ['2n2eB. C. 2n2e-λD.

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更多“如图2-2所示,折射率为n2、厚度为e的透明介质薄膜的上方和下方的透明介质的折射率分别为n2和n3,已知n123。若用波长为λ的单色平行光垂直入射到该薄膜上,则从薄膜上、下两表面反射的光束(1)和(2…”相关的问题
第1题
用波长为589.3nm的单色光垂直照射折射率为n2=1.38的劈尖薄膜(如图)。图中各部分折射率的关系是n1 <n2> <n3,观察反射光的干涉条纹,从劈尖棱边(最左端)开始向右数第5条暗纹中心所对应的膜的厚度e=_____(μm)(计算结果保留到小数点后两位)>

用波长为589.3nm的单色光垂直照射折射率为n2=1.38的劈尖薄膜(如图)。图中各部分折射率的关系是n1 <n2> <n3,观察反射光的干涉条纹,从劈尖棱边(最左端)开始向右数第5条暗纹中心所对应的膜的厚度e=_____(μm)(计算结果保留到小数点后两位)>用波长为589.3nm的单色光垂直照射折射率为n2=1.38的劈尖薄膜(如图)。图中各部分折射率的关

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第2题
用波长为589.3nm的单色光垂直照射折射率为n2=1.38的劈尖薄膜(如图)。图中各部分折射率的关系是n1<n2<n3,观察反射光的干涉条纹,从劈尖棱边(最左端)开始向右数第5条暗纹中心所对应的膜的厚度e=_____(μm)(计算结果保留到小数点后两位) data="159157">
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第3题

A.4πn1e/λ

B. 2πn1e/λ

C. 4πn1n2e/λ

D. 2πn1n2e/λ

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第4题
如图16.8所示的实验装置中,平面玻璃片MN上放有一油滴,当油滴展开成圆形油膜时,在波长λ=600nm的

单色光垂直人射下,从反射光中观察油膜所形成的干涉条纹,已知玻璃的折射率n1=1.50,油膜的折射率n2=1.20,问:(1)当油膜中心最高点与玻璃片上表面相距h=1200nm时,看到的条纹情况如何?可看到几条明条纹?明条纹所在处的油膜厚度为多少?中心点的明暗程度如何?(2)当油膜继续摊展时,所看到的条纹情况将如何变化?中心点的情况如何变化?

如图16.8所示的实验装置中,平面玻璃片MN上放有一油滴,当油滴展开成圆形油膜时,在波长λ=600n

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第5题

A.0

B. 148.8nm

C. 78.1nm

D. 74.4nm

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第6题
图13-17所示为一GaAs发光管,为了提高输出光功率,在其半球形的内表面上镀了一层折射率为n2=1.3

图13-17所示为一GaAs发光管,为了提高输出光功率,在其半球形的内表面上镀了一层折射率为n2=1.38的增透膜。已知GaAs发射的光波长为λ=930 nm,折射率为n1=3.4,求增透膜的最小厚度e0为多少。

图13-17所示为一GaAs发光管,为了提高输出光功率,在其半球形的内表面上镀了一层折射率为n2=1

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第7题
波长为λ的单色光垂直照射到折射率为n2的劈形膜上,如题图14-10所示,图中,观察反射光形成的

波长为λ的单色光垂直照射到折射率为n2的劈形膜上,如题图14-10所示,图中波长为λ的单色光垂直照射到折射率为n2的劈形膜上,如题图14-10所示,图中,观察反射光形成的波长为,观察反射光形成的干涉条纹。

波长为λ的单色光垂直照射到折射率为n2的劈形膜上,如题图14-10所示,图中,观察反射光形成的波长为

(1)从劈形膜顶部O开始向右数起,第五条暗纹中心所对应的薄膜厚度e5是多少?

(2)相邻的两明纹所对应的薄膜厚度之差是多少?

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第8题
如图13-14所示,为了测量镀在氮化硅上的某种透明薄膜的厚度,将其腐蚀掉一部分而形成劈尖。已知

如图13-14所示,为了测量镀在氮化硅上的某种透明薄膜的厚度,将其腐蚀掉一部分而形成劈尖。已知透明薄膜的折射率为1.76,氮化硅的折射率为2.35,入射光波长为589nm,观察到6条暗纹。求透明薄膜的厚度e.

如图13-14所示,为了测量镀在氮化硅上的某种透明薄膜的厚度,将其腐蚀掉一部分而形成劈尖。已知如图1

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第9题
平行平板的折射率为n。厚度为d,入射光线A平行于光轴,当平行平板绕D点旋转φ角时,如图3-20所示。求光
线位移d'的表达式。

平行平板的折射率为n。厚度为d,入射光线A平行于光轴,当平行平板绕D点旋转φ角时,如图3-20所示。

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第10题
制造半导体元件时,常常要精确测定硅片上二氧化硅薄膜的厚度,这时可把二氧化硅薄膜的一部分腐
蚀掉,使其形成劈尖,利用等厚条纹测出其厚度。已知Si的折射率为3. 42,SiO2的折射率为1. 5,入射光波长为589.3 nm,观察到7条暗纹(如图22. 7所示)。问SiO2薄膜的厚度h是多少?

制造半导体元件时,常常要精确测定硅片上二氧化硅薄膜的厚度,这时可把二氧化硅薄膜的一部分腐蚀掉,使其形

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