(1)a.根据这些数据,估计以下回归模型:,并解释所得结果。
b.求出上述回归的残差和标准化残差并作图。你能对这些残差中是否有自回归做些什么猜测?
c.估计德宾-沃森d统计量并对数据中可能出现的自相关性质作出评论。
d.做游程检验,看你的答案是否不同于刚才在c中所得到的结果。
e.你怎样辨别AR(p)过程是否比AR(1)过程更好地描述自相关?
(2)如果该题的结果表明存在序列相关:
a.用科克伦-奥克特两步程序,估计可行GLS或广义差分回归,并比较你所得的结果。
b.如果估计自a的科克伦-奥克特法的ρ值和从d统计量估计得的结果相差较大,你将选择哪一个估计ρ的方法,为什么?
A、德宾-沃森d统计量的取值在-1和+1之间。
B、德宾-沃森d检验假定误差项具有同方差性。
C、德宾-沃森d检验只能检验一阶序列相关。
D、序列相关违背的是关于随机干扰项和解释变量的假定
a.估计上述回归。
b.利用(i)德宾-沃森检验和(ii)方程(12.6.13)所给的大样本正态性检验,从估计的残差中探明是否有正的自相关。
c.如果ρ是正的,利用贝伦布鲁特-韦布检验去检验假设ρ=1。
d.如果你猜测自回归误差结构的阶数是P,可用布罗施-戈弗雷检验去证实这一点。你会怎样选择阶数P呢?
e.根据此检验的结果,你会怎样转换数据从而把自回归除掉?说明你的全部计算。
f.重复前面的步骤,但用以下模型:。
g.你在线性与对数线性两种设定之间如何取舍?说明你的检验方法。
a.图12-2说明什么?
b.在上述情况下,你怎样摆脱“序列”相关问题?
A.雷诺数相等 B.相对粗糙度相等 C.糙率相等 D.谢才系数相等
a.做如下回归:
1.Y对X 2.lnY对In X 3.In Y对X 4.Y对In X
b.解释各回归结果。
c.对每一个模型求Y对X的变化率。
d.对每一个模型求Y对X的弹性,对其中的一些模型,求Y对X的均值弹性。
e.根据这些回归结果,你将选择哪个模型?为什么?
A、异方差检验首先要明确是纯异方差还是非纯异方差。
B、Park检验中对t统计量进行检验时应采用单侧检验
C、Park检验采用的是双对数回归模型。
D、White检验中可包含解释变量的交叉项,也可不包含解释变量的交叉项。
E、异方差检验主要关注残差。
F、若异方差与解释变量完全没有关系,White检验也无能为力。
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