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提问人:网友liaohui01
发布时间:2022-01-06
[单选题]
射线探伤时,使用像质计的主要目的是()。
A.测量缺陷的大小
B. 测量缺陷的位置
C. 测量缺陷的几何不清楚度
D. 确定底片的彩像质量
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A.测量缺陷的大小
B. 测量缺陷的位置
C. 测量缺陷的几何不清楚度
D. 确定底片的彩像质量
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