题目内容
(请给出正确答案)
提问人:网友lxliang
发布时间:2022-01-07
[单选题]
长时间的热电子效应可能会对MOSFET的器件性能产生哪些影响:()。
A.阈值电压增大
B.跨导增大
C.亚阈区特性恶化
D.漏源击穿电压增加
参考答案
简答题官方参考答案
(由简答题聘请的专业题库老师提供的解答)
查看官方参考答案
网友提供的答案
共位网友提供了参考答案,
查看全部
- · 有4位网友选择 A,占比40%
- · 有2位网友选择 B,占比20%
- · 有2位网友选择 C,占比20%
- · 有2位网友选择 D,占比20%