题目内容
（请给出正确答案）
A.X−R图可适用于非正态的过程
B.X−R有更高的检出力
C.X−R图作图更为简便
D.X−R图需要更少的样本含量
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更多“X−R控制图比X－MR（单值移动极差)控制图应用更为普遍的原因在于：（）”相关的问题
A.X−R图可适用于非正态的过程
B.X−R有更高的检出力
C.X−R图作图更为简便
D.X−R图需要更少的样本含量
A.F—Rs控制图控制成本低
B.单值控制图和均值控制图可用来监控过程中心的变化
C.标准差控制图监控过程差异比极差控制图更准确
D.均值控制图反映过程中心变化比单值控制图更灵敏
E.X—Rs控制图更适用于允许抽样量高，过程稳定性差的过程
A.变异来源不仅包含随机误差。此时，必须等待清除组间变异变大的情况后，才能使用 SPC
B.其实只要将每小时芯片镀膜厚度之均值求出，对48个数据绘制单值一移动极差（X一 MR）控制图即可
C.求出各小时芯片镀膜厚度之均值，对之绘制单值一移动极差（X 一八妞）控制图外，再绘制各小时的极差（R）控制图，三张控制图同时使用即可控制过程
D.解决此类问题的最好方法是使用EWMA控制图
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