X线头影测量主要应用于A.研究颅面生长发育B.骨龄的确定C.错畸形的诊断分析D.正畸矫治的前后对照E
A.研究颅面生长发育
B.骨龄的确定
C.错畸形的诊断分析
D.正畸矫治的前后对照
E.正颌外科
A.研究颅面生长发育
B.骨龄的确定
C.错畸形的诊断分析
D.正畸矫治的前后对照
E.正颌外科
A.可对牙牙合、颅面畸形作诊断分析
B.可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化
C.可确定错骀畸形的矫治设计
D.可作为外科正畸诊断和矫治设计依据
E.可研究颅面生长发育
A.可研究颅面生长发育
B.可对牙、颅面畸形作诊断分析
C.可确定错畸形的矫治设计
D.可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化
E.可作为外科正畸诊断和矫治设计依据
研究颅面生长发育常用的研究方法是
A、X线头影测量
B、牙片
C、咬合片
D、胸片
E、口腔颌面部CT常规扫描检查
研究颅面生长发育常用的研究方法是
A.咬合片
B.口腔颌面部CT常规扫描检查
C.X线头影测量
D.胸片
E.牙片
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