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扩散掺杂,扩散区要比掩膜窗口尺寸 ,这是 效应引起的,它直接影响超大规模集成电路的集成度。
A.大,横向扩散
B.小,横向扩散
C.大,场助扩散
D.大,氧化增强
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A.大,横向扩散
B.小,横向扩散
C.大,场助扩散
D.大,氧化增强
A. 硬件方面,逻辑元件采用大规模和超大规模集成电路(LSI和VLSI)
B. 软件方面出现了数据库管理系统、网络管理系统和面向对象语言等
C. 相比较以前的计算机主要是体积缩小价格降低,速度上没有什么提高跟以前差不多
D. 应用领域从科学计算、事务管理、过程控制逐步走向家庭
A、在中等浓度p型硅上扩散掺入n型杂质;
B、在重掺杂p型硅上扩散掺入n型杂质;
C、在本征硅上扩散掺入中等浓度的杂质硼。
D、在本征硅上扩散掺入高浓度的杂质硼,同时进行氧化。
A、不可以
B、可以,实际注硼:QB+QSb
C、可以,实际注硼:QB-QSb
D、可以,实际注硼:QB
基于LSS理论,判断对下图分析的对错:
A、该入射离子是低能注入;
B、该入射离子是高能注入;
C、入射离子在靶中由A运动到B主要受到靶原子核阻滞;
D、入射离子在靶中由A运动到B主要是受到靶电子阻滞;
E、入射离子在靶中由B运动到C主要受到靶原子核阻滞;
F、入射离子在靶中由B运动到C主要是受到靶电子阻滞。
A、注入离子越轻,临界剂量越小;
B、靶温升高,临界剂量上升;
C、注入离子能量越高,临界剂量越低;
D、注入离子剂量率增大,临界剂量降低。
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