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提问人：网友huicer
发布时间：2022-01-07
[主观题]
【判断题】根轨迹校正需要将时域指标转换成系统闭环极点的期望位置，所依据的是欠阻尼二阶系统的性能指标公式。
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第2题
【多选题】根轨迹校正最后需要进行验证的原因有。
A.闭环极点期望位置是按照二阶欠阻尼系统设计，最后得到的闭环系统往往为高阶系统，性能会与二阶欠阻尼系统有所差异。
B.系统受到扰动的情况下，可能不满足设计要求。
C.设计过程并非精确计算，一些步骤，譬如增加开环偶极子，带来的影响会可能是最终的系统不满足设计要求。
D.根轨迹法本身就不准确。
第3题
【填空题】用根轨迹法进行系统校正，是将高阶系统看作欠阻尼二阶系统进行设计，所以，在校正装置设计之后，需要进行____，看被忽略掉的系统极点对系统动态性能的影响。正因为降阶处理的粗略性，设计之初确定主导极点位置时需要留出____。
第6题
所谓过阻尼系统是指系统的闭环极点均为负实极点，而欠阻尼系统是指系统的闭环极点均具有负实部，且有复数极点。若设根轨迹的实分离点为
为各分离点对应的开环根轨迹增益，则根据根轨迹性质，若 ，系统为过阻尼系统。
为各分离点对应的开环根轨迹增益，则根据根轨迹性质，若 ，系统为过阻尼系统。
A.
,开环极点均为负实极点，
时
B.
，开环零点均为负实零点，
时
C.，开环零点均为负实零点，时
D.，开环极点均为负实极点，时
第7题
所谓过阻尼系统是指系统的闭环极点均为负实极点，而欠阻尼系统是指系统的闭环极点均具有负实部，且有复数极点。若设根轨迹的实分离点为
为各分离点对应的开环根轨迹增益，则根据根轨迹性质，若 ，系统为过阻尼系统。
为各分离点对应的开环根轨迹增益，则根据根轨迹性质，若 ，系统为过阻尼系统。
A.
，开环极点均为负实极点时，
时
B.
，开环零点均为负实零点，
时
C.，开环零点均为负实零点，时
D.，开环极点均为负实极点，时
第9题
【填空题】用根轨迹法设计系统的校正装置，首先由给定的____确定主导极点的位置；然后通过设置校正装置的____使根轨迹通过主导极点的预期位置；最后，计算预期位置处的根轨迹增益从而得到校正装置____，通过增加____满足系统的静态精度要求。
