题目内容
（请给出正确答案）
提问人：网友ake240
发布时间：2022-01-06
[主观题]
一般情况下，电子元器件的寿命试验属于（）。A.非破坏性检验B.破坏性检验C.全数
一般情况下，电子元器件的寿命试验属于（）。
A.非破坏性检验
B.破坏性检验
C.全数检验
D.感官检验
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A.{x：x>1 000}
B.{x：x>1 800)
C.{x：1 000<1>
D.{x：x<1 800)
=2350小时，s=800，试求过程能力指数。
